冲击试样缺口投影仪
产品描述
| 编号： | 产地： 山东济南 |
| 价格：面议 | 规格： CST-50 |
| 详细介绍：CST-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。 二、工作原理： 本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。 根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。 三、主要参数： 投影屏直径： 180mm 工作台尺寸： 方工作台尺寸： 110×125mm 圆工作台直径： 90mm 工作台玻璃直径： 70mm 工作台行程： 纵向： ±10mm 横向： ±10mm 升降： ±12mm（无刻度） 工作台转动范围： 0-360°（无刻度） 放大倍数： 仪器放大倍率： 50X 物镜放大倍率： 2.5X 投影物镜放大倍率： 20X 光源（卤钨灯）： 12V 100W 外形尺寸： 515×224×603mm（长×宽×高） 重量： 约18Kg | |
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